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x射線熒光光譜分析法

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樓主
發(fā)表于 2025-5-16 15:41:02 | 只看該作者 |倒序瀏覽 |閱讀模式
X射線熒光光譜分析法（XRF）是一種用于元素分析的技術，其原理基于X射線熒光現(xiàn)象。當高能X射線照射到樣品時，會激發(fā)樣品中的原子，使其內(nèi)層電子躍遷到外層，產(chǎn)生特征X射線熒光。這些熒光的波長或能量與樣品中元素的種類和含量有關。通過測量熒光的波長或能量，可以確定樣品中元素的種類；通過測量熒光的強度，可以確定元素的含量。XRF具有非破壞性、快速、靈敏度高等優(yōu)點，廣泛應用于地質(zhì)、環(huán)境、材料等領域。
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  • TA的每日心情
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    2024-8-5 17:37

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    發(fā)表于 2025-12-1 19:25:38 | 只看該作者
    這么實用的分享必須支持，希望樓主以后常來交流～
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